ورود کاربران دانشگاهی
ثبت نام(مطالعه آنلاین پایان نامه ها)
کاربر مهمان
سپندا
جمعه 10 فرودرین 1403
|
54.167.199.134
:Your IP
س
امانه
پ
ایان
ن
امه های
د
انشگاه
ا
صفهان (
سپندا
)
صفحه اول(جستجو)
مرور موضوعی
پرسش های متداول و راهنما
سامانه تطبیق پایان نامه با شیوه نامه
تماس با ما
(0)
عنوان :
بررسی ساختار بین لایه ای و طول همبستگی افقی در نانو چند لایه ای مغناطیسی Co / Ru
انتشارات :
دانشگاه اصفهان
سال :
1387
زبان :
Persian
شماره سند :
4826
موضوع :
پژوهشگر :
مجید افشاری
توصیفگر لاتین :
??????? ?? ?? Interface structure , In-plane correlation length , Magnetic none-multilayers Co , Ru , Fractal parameter , Light scattering , Diffuse x-ray scattering , Multilayers
توصیفگر فارسی :
فیزیک ( ماده چگال) ? 1387 ? ساختار بین لایه ای ? طول همبستگی افقی ? نانو چندلایه ای مغناطیسی ? پارامتر فرکتالی ? پراکندگی نور ? پراکندگی پرتو ایکس
دانشکده :
دانشکده علوم، گروه فیزیک
مقطع :
کارشناسی ارشد فیزیک گرایش ماده چگال
استاد راهنما :
دکتر امیرحسن روضاتیان
استاد مشاور :
سال دفاع :
1387
شماره رکورد :
4826
شماره راهنما :
PHY2 241
فهرست :
فهرست مطالبعنوان صفحهفصل اول: چندلایه¬ای¬ها1-1 مقدمه 11-2 چندلایه¬ای¬ها 11-3 اهمیت بررسی ساختار سطح مشترک در چندلایه¬ای¬ها 31-4 روش¬های بررسی ناهمواری سطح مشترک 41-5 چندلایه¬ای¬های Co/Ru 51-6 خلاصه 6فصل دوم: بررسی مفاهیم مربوط به سطح مشترک و ناهمواری2-1 مقدمه 72-2 مثالهایی از فرایند رشد 92-2-1 جریان مایع در محیطهای متخلخل 92-2-2 پیشروی زبانه آتش 102-2-3 خطوط جریان در ابررسانا 102-2-4 نشست اتمها روی یک سطح 112-3 مفاهیم فرکتالی 122-3-1 فرکتالهای خود- متناسب 142-3-2 مدل سطح 162-4 خلاصه 20فصل سوم: پراکندگی پرتو ایکس از سطح و سطح مشترک3-1 مقدمه 213-2 قانون اسنل و معادلات فرنل در محدودهی پرتو ایکس 223-3 بازتاب از سطح مشترک یک مادهی همگن 25عنوان صفحه3-4 بازتاب آیینهای از چندلایهایها 303-4-1 تقریب سینماتیکی 313-5 سطوح و سطوح مشترک ناهموار 333-5-1 پراکندگی از سطوح و سطوح مشترک ناهموار 343-5-2 حالت حدی بازتابش فرنل 373-5-3 سطوح ناهمبسته 383-5-4 سطوح همبسته 393-6 خلاصه 42فصل چهارم: تعیین مشخصه¬ی ناهمواری4-1 مقدمه 444-2 پراکندگی پخشی پرتو ایکس 454-3 عامل ساختار سطح ناهموار 464-4 هندسهی پراکندگی 524-4-1 Rocking Scan: 524-4-2 Detector Scan: 524-4-3 Offset Scan 534-4-4 روبش خارج از صفحه 534-5 پراکندگی از چندلایه¬ای¬ها 574-6 خلاصه 60فصل پنجم: آزمایش و نتایج اندازه¬گیری5-1 مقدمه 615-2 جزئیات آزمایش 625-3 کاربرد نرم¬افزار FIT2D در انجام محاسبات 63عنوان صفحه5-4 محاسبات 655-5 نتایج محاسبات 675-5-1 نمونه¬ی 5N= 675-5-2 نمونه¬ی 15N= 705-5-3 نمونه¬ی 20N= 735-5-4 نمونه¬ی 60N= 755-5-5 نمونه¬ی 80N= 785-6 اندازه¬گیری طول همبستگی افقی 835-7 بررسی H و ? به ازای مقادیر مثبت و منفی 835-8 بررسی تغییرات H و ? با تغییر تعداد دولایه¬ای¬ها 845-9 بحث درباره¬ی نتایج 87فصل ششم: نتیجه¬گیری و پیشنهادات6-1 نتیجه¬گیری 926-2 پیشنهادات 93پیوست هاپیوست الف 94پیوست ب 100منابع و مآخذ 112
چکیده :
چکیده سامانه¬های چندلایه¬ای که از مجاورت لایه¬های نازکی از مواد مختلف( معمولاً دو ماده) ساخته می¬شوند، دارای ویژگی¬های فیزیکی منحصر به فردی هستند. ناهمواری بین لایه¬ای، که ویژگی اجتناب-ناپذیر در فرایند رشد این سامانه¬ها است، ویژگی¬های فیزیکی سیستم را تحت تأثیر قرار می¬دهد. یکی از روش¬های قدرتمند و متداول بررسی ناهمواری، پراکندگی پخشی پرتو ایکس در زاویه¬های فرودی خراشان است. چندلایه¬ای¬های مورد نظر در این پژوهش هستند که است. زیرلایه از نوع تک بلور سیلیکون به جهت بلوری (001) است. در این تحقیق پارامتر فرکتالی و طول همبستگی افقی نمونه¬ها محاسبه شده و تغییرات آن¬ها با افزایش تعداد دولایه¬ای¬ها بررسی شده است. این نمونه¬ها در دانشگاه لیدز انگلستان به روش اسپاترینگ تولید شده¬اند و آزمایش¬های پراکندگی پخشی پرتو ایکس در سینکروترون ESRF فرانسه انجام شده است. آشکارساز به کار برده شده در این آزمایش آشکارساز MarCCD است که از گروه آشکارسازهای دوبعدی است. برای استخراج داده¬ها از تصویرهای پراکندگی به دست آمده از MarCCD ، از نرم¬افزار FIT2D استفاده کرده¬ایم. بررسی شدت بر حسب مؤلفه¬ی بردار پراکندگی موازی با سطح نشان می¬دهد که ناهمواری سطح مشترک در تمام نمونه¬ها در مقیاس¬های طولی کوچک دارای مشخصه¬ی فرکتالی است. پارامتر فرکتالی به دست آمده برای نمونه¬ی با مقدار پیش¬بینی شده توسط مدل رشد KPZ سازگار است و در دیگر نمونه¬ها پارامتر فرکتالی با افزایش تعداد دولایه¬ای¬ها افزایش می¬یابد که با مدل رشد TAB سازگار است. بررسی¬ها نشان می¬دهد که در نمونه¬های همبستگی خوبی بین بالاترین سطح مشترک و پایین¬ترین سطح مشترک وجود دارد. طول همبستگی افقی محاسبه شده با گذشت زمان و افزایش تعداد دولایه-ای¬ها، افزایش یافته و سپس اشباع می¬شود. این رفتار در رشد لایه-های نازک قابل انتظار است ولی داده¬های بازتابی لازم است تا مشخص شود که طول همبستگی محاسبه شده، همان طول همبستگی معرفی شده در مدل رشد TAB است یا پارامتر دیگری است. موضوعی که واضح است این است که، طول محاسبه شده، مقیاسی برای رفتار توانی افت شدت در مقادیر بزرگ مؤلفه¬ی موازی بردار پراکندگی.است. از مقایسه¬ی نتایج به دست آمده با نتایج مربوط به سامانه¬هایی با فرمول Co/X همانند (Co/Pd و Co/Pt) به نظر می¬رسد همبستگی بین سطح مشترک¬ها به ضخامت چندلایه¬ای وابسته است، به طوری که با افزایش ضخامت چندلایه¬ای همبستگی بین بالاترین و پایین¬ترین سطح مشترک کاهش می¬یابد و بعد از ضخامت مشخصی همبستگی به طور کامل حذف می¬شود. همچنین به نظر می¬رسد سامانه¬های ذکر شده با افزایش تعداد دولایه¬ای¬ها مشخصه¬ی فرکتالی دوبعدی به خود می¬گیرند. کلید¬واژه: پارامتر فرکتالی, پراکندگی پخشی پرتو ایکس, چندلایه-ای¬ها, طول همبستگی افقی.
چکیده انگلیسی :
Abstract Composed of alternating layers of two different materials as thin as a few atoms, multilayers offer extraordinary and unexpected new properties. Physical properties of the active layers can be affected by the interface roughness in such systems. Grazing incidence X-ray scattering techniques provide a powerful method with which to study the bulk and interface morphology in these systems, and are therefore crucial in developing an understanding of the dominant factors influencing their physical properties. In this project the inter-relation between structural properties (in-plane correlation length and fractal parameter as a function of bilayer number) of a series of magnetic multilayer thin films is investigated. A series of Co/Ru multilayer films were grown on a single crystal (001) oriented silicon using the magnetron sputtering technique at the University of Leeds, UK. All samples were nominally: SiO2 / {Co(1 nm)/(Ru 1.1 nm)} × N where N= 5, 15, 20, 60, 80 Diffuse X-ray scattering experiments were carried out on the XMaS beamline at the ESRF, Grenoble, France. The detector used for the experiment was MarCCD (a 2-D detector). FIT2D software has been used to extract information from MarCCD Images. The investigation of intensity variation as a function of parallel momentum transfer indicates that all samples exhibit a fractal-like behavior. Fractal parameter (H) obtained for N=5 is in good agreement with the value predicted by KPZ growth model while for the other samples H increases as a function of bilayer repeat, which is in good agreement with the TAB growth model. The data analysis shows that in samples with N=5, 15, 20 the correlation between top and the bottom of the multilayer stack is very good. The in-plane correlation length increases as the number of multilayers increase and then saturates. It is worth mentioning that the reflectivity data would be useful in order to find out whether both experimental data confirm the TAB model of layer growth. Finally, comparing our results with those of Co/X (e.g. Co/Pd and Co/Pt) multilayers confirm that the correlation between interfaces depends on the layer thicknesses. In addition an increase in layer thickness yields to a reduction in correlation between top and bottom of the sample. It can be suggested that as the number of multilayers increase, the interfaces tend to become more two dimensional (fractal-like) in co-based magnetic multilayers. Keywords: fractal parameter, diffuse x-ray scattering, multilayers, in-plane correlation length.
کلید واژه ها :
فیزیک ( ماده چگال) ? 1387 ? ساختار بین لایه ای ? طول همبستگی افقی ? نانو چندلایه ای مغناطیسی ? پارامتر فرکتالی ? پراکندگی نور ? پراکندگی پرتو ایکس,چندلایه ای ها Interface structure , In-plane correlation length , Magnetic none-multilayers Co , Ru , Fracta
مهر 1387
0
صفحه اول :
University of Isfahan Faculty of Science Department of Physics M.Sc. Thesis Studying Interface Structure and In-plane Correlation Length in Co/Ru Magnetic Nano-multilayers Supervisor: Dr. Amir Sayid Hassan Rozatian Advisor: Dr. Hamid Reza Fallah By: Majid Afshari October 2008
فصل اول :
فصل دوم :
فصل سوم :
فصل چهارم :
فصل پنجم :
فصل ششم :